ข่าว
2026-10-15
การตรวจสอบด้วย AI ผ่านการวิเคราะห์ภาพจากตัวอย่างข้อมูล เปลี่ยนจากแบบการเก็บตัวอย่างมาเป็นการตรวจจับภาพแบบครอบคลุมทั้งสายการผลิต
NOWA is advancing semiconductor manufacturing support with AI vision inspection that can evaluate every unit at production speed. The approach combines stable imaging, defect libraries, and automated decision rules to improve consistency while reducing dependence on manual sampling.
เรียนรู้เพิ่มเติม
