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2026-10-15
L’inspection visuelle par IA passe de la prise de prélèvements à une couverture complète de l’ensemble de la ligne
NOWA développe un système de contrôle visuel basé sur l’IA pour soutenir la fabrication de semi-conducteurs, capable d’évaluer chaque unité à vitesse de production. Cette approche combine une imagerie stable, des bibliothèques de défauts et des règles décisionnelles automatisées pour améliorer la cohérence tout en réduisant la dépendance à l’analyse manuelle des échantillons.
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