L’inspection visuelle par IA passe de la prise de prélèvements à une couverture complète de l’ensemble de la ligne

NOWA développe un système de contrôle visuel basé sur l’IA pour soutenir la fabrication de semi-conducteurs, capable d’évaluer chaque unité à vitesse de production. Cette approche combine une imagerie stable, des bibliothèques de défauts et des règles décisionnelles automatisées pour améliorer la cohérence tout en réduisant la dépendance à l’analyse manuelle des échantillons.

Principaux développements

• L’imagerie haute résolution permet de détecter les bosses, les contaminations, l’alignement et les anomalies de surface.
• La classification assistée par l’IA distingue les motifs de défaut récurrents des variations normales du processus.
• Les résultats de l’inspection peuvent être liés aux données relatives aux équipements, aux lots, aux recettes et aux opérateurs pour une analyse plus rapide.

Valeur pratique pour les fabricants

Ces fonctionnalités permettent aux équipes de production de prendre des décisions sur la base de données plus précises, de réduire le temps nécessaire à l’analyse des écarts et de maintenir une production stable en fonction des changements des exigences du produit. Une mise en œuvre efficace combine un équipement adapté, des processus contrôlés, des données utiles et une responsabilité claire en matière de suivi.

L’approche de NOWA

NOWA travaille avec les clients pour examiner la demande, identifier les opportunités d’amélioration les plus valables et définir un plan de vérification pratique. L’objectif est d’introduire l’automatisation et la vision IA de manière à favoriser des améliorations quantifiables en matière de qualité, d’efficacité et de fiabilité sur le site de production.